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美國艾爾測試系統(tǒng)股份有限公司
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2017-01-06
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ABTS-L36
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美國
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電子測量儀器
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上海市
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VIH: 1 ~ 6V;VIL=0V；VIH Groups 5 levels VIH setting for every 32 Channels；Overshoot/Undershoot 10% @BIB Load；Power Capability；Device Power Supply；DPS1=DPS2=18A;DPS3=DPS4=3A;DPS5=DPS6=9A；Power Driver Voltage；DPS1=DPS2=0.5~5V;DPS3=DPS4=1~12V;DPS5=DPS6=0.5~5V； Programmable Resolution 50mV
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在耐溫老化試驗中，首先要根據(jù)老化測試系統(tǒng)機臺內(nèi)部的接口，另外設(shè)計制作老化測試板，將要測試的集成電路芯片插在老化測試板上，再將老化測試板插入老化測試系統(tǒng)內(nèi)部的接口中，老化測試系統(tǒng)內(nèi)部接口可提供電壓和信號，通過老化測試板供給芯片，同時讓老化測試系統(tǒng)升溫，讓芯片在高溫狀態(tài)下工作。
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電子與通信技術(shù),信息與系統(tǒng)科學相關(guān)工程與技術(shù)
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在耐溫老化試驗中，首先要根據(jù)老化測試系統(tǒng)機臺內(nèi)部的接口，另外設(shè)計制作老化測試板，將要測試的集成電路芯片插在老化測試板上，再將老化測試板插入老化測試系統(tǒng)內(nèi)部的接口中，老化測試系統(tǒng)內(nèi)部接口可提供電壓和信號，通過老化測試板供給芯片，同時讓老化測試系統(tǒng)升溫，讓芯片在高溫狀態(tài)下工作。
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上海北芯半導體科技有限公司
機構(gòu)介紹:
上海北芯半導體科技有限公司在2013年成立于上海浦東張江高科技園區(qū),擁有先進的半導體封裝、測試、分析、驗證等設(shè)備及經(jīng)驗豐富的工作團隊，為IC設(shè)計公司、科研院所以及生產(chǎn)廠商提供快速且專業(yè)的芯片封裝、主要包括Wafer\MPW\shuttle研磨、切割、裸die挑選、工程品快封（陶瓷快封和塑脂快封）可靠性RA測試、FIB、競爭力分析、SEM、CP測試等技術(shù)分析測試服務(wù)，目前(Y2018/01)擁有專利53項、ISO9001:2008/2015認證、CNAS(中國實驗室認證）、集成電路公共研發(fā)服務(wù)平臺等機構(gòu)認證，在可靠的品質(zhì)保證下，可以幫助客戶節(jié)省更多的研發(fā)時間和成本，是一家專業(yè)的半導體集成電路芯片驗證服務(wù)公司。
自實驗室成立之日起，我們始終秉承“客戶至上”的理念，堅持以嚴謹?shù)膽B(tài)度追求創(chuàng)新，以專業(yè)的素養(yǎng)服務(wù)客戶，以誠信的經(jīng)營造就品牌，同時我們也深知，服務(wù)時效性以及工程質(zhì)量發(fā)展的決定性因素，我們有著充滿活力且經(jīng)驗豐富的工作團隊，加之整個團隊對工作的執(zhí)行力以及無比敬業(yè)的精神，將為您提供專業(yè)、嚴謹、快速、高品質(zhì)的服務(wù)。
資質(zhì)能力：
